Optik algılama teknolojisi, yarı iletken taşıyıcılar için kalite kontrolün temel araçlarından biridir. Taşıyıcı bandın genellikle pürüzsüz bir yüzeye ve güçlü bir yansıtma özelliğine sahip plastik veya metalden yapılmış olması nedeniyle, kusurları doğru bir şekilde yakalamak için özel ışık kaynağı tasarımı ve görüntüleme şemaları gerekir. Yaygın tespit yöntemleri, farklı türdeki kusur özelliklerini vurgulamak için parlak alan aydınlatmasını, karanlık alan aydınlatmasını ve çok açılı ışık kaynağı kombinasyonlarını içerir.
Belirli uygulamalarda, yüksek frekanslı ışık kaynaklarıyla birleştirilmiş hat tarama kameraları, taşıyıcı bant yüzeyinin sürekli taranmasını sağlayarak mikro ölçekli çizikleri, çukurları veya kirletici maddeleri tespit edebilir. Bu arada, taşıyıcı bandın kalınlık tekdüzeliğini ölçmek için lazer yer değiştirme sensörleri kullanılabilir ve böylece paketleme işlemi sırasında stres sorunlarından dolayı talaş hasarına neden olmayacağı garanti edilir. Delik konumlarının ve konumlandırma işaretlerinin tespiti için, her bir taşıyıcının delik aralığının talaş yükleme konumuyla doğru bir şekilde eşleştiğinden emin olmak için yüksek hassasiyetli kenar tanıma algoritmalarına güvenilir.
Taşıyıcı bantlarımız PS taşıyıcı bant, PC taşıyıcı bant ve BGA şeffaf taşıyıcı banttan oluşur. Ayrıca SMT taşıyıcı bant, Özel Aktarım bandı, Kapak bandı, Yüksek Yetenekli Aktarım bandı ve ESD taşıyıcı bant da sunuyoruz. Gerekirse lütfen bize pod çizimlerini gönderin ve bizimle iletişime geçin.
Ayrıca kızılötesi veya ultraviyole ışık kaynaklarının uygulanması, taşıyıcı malzeme içindeki gerilim dağılımını veya mikroyapısal kusurları tespit ederek ürün kalitesini daha da artırabilir. Tespit teknolojisinin ilerlemesiyle birlikte, daha karmaşık kusur türleriyle başa çıkmak için multispektral görüntüleme ve polarize ışık teknolojisinin kombinasyonu, üst düzey taşıyıcı tespitinde de uygulanmaya başlandı. Gelecekte optik denetim, daha verimli ve doğru kalite kontrolü sağlamak için otomatik üretim hatlarına derinlemesine entegre edilecek.